Authors: А.С. Сорокин
Title of the article: Применение полумарковских процессов к определению характеристик надежности технологических схем
Year: 2005, Issue: 1, Pages: 3-9
Branch of knowledge: Applied mathematics
Index UDK: 519.21
DOI: -
Abstract: Предложен способ вычисления основных характеристик надежности технологических схем, который позволяет получать простые аналитические зависимости.
Key words: -
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.