logo

Article

Authors: А.С. Сорокин

Title of the article: Применение полумарковских процессов к определению характеристик надежности технологических схем

Year: 2005, Issue: 1, Pages: 3-9

Branch of knowledge: Applied mathematics

Index UDK: 519.21

DOI: -

Abstract: Предложен способ вычисления основных характеристик надежности технологических схем, который позволяет получать простые аналитические зависимости.

Key words: -

CITE DOWNLOAD

Обложка

This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.