Авторы: А.С. Сорокин

Название статьи: Применение полумарковских процессов к определению характеристик надежности технологических схем

Год: 2005, Номер: 1, Страницы: 3-9

Отрасль знаний: Прикладная математика

Индекс УДК: 519.21

DOI: -

Аннотация: Предложен способ вычисления основных характеристик надежности технологических схем, который позволяет получать простые аналитические зависимости.

Ключевые слова: -

ЦИТИРОВАНИЕ СКАЧАТЬ